Система анализа чистоты компонентов / Микроскоп для подсчета частиц, соответствующих стандартам VDA19.1 и ISO16232.

Система анализа чистоты SinAPC 53M используется для технического контроля чистоты компонентов с размером частиц от 5 до 1000 мкм и более. Система микроскопа для подсчета частиц автоматически идентифицирует металлические частицы, неметаллические частицы и волокна. Также она автоматически измеряет длину, ширину, площадь, классифицирует и подсчитывает частицы по размеру. В заключение проводится статистический анализ в соответствии с VDA19.1 или ISO16232 для получения достоверного отчета о проверке чистоты.

Система анализа чистоты SinAPC 53M включает в себя следующие элементы:

1. Оптический микроскоп с большой глубиной резкости

Микроскоп Olympus BX53M с высокой глубиной резкости (обнаруживает частицы ≥5 мкм); предоставляет клиентам более полные решения с превосходными характеристиками изображения и удобным интерфейсом.

2. Цветная CMOS-камера высокого разрешения

Цветная CMOS-камера высокого разрешения, разъем USB 3.0, точность 0,5 мкм/пиксель, фактическое количество пикселей 2,3 миллиона. Высокая частота кадров: 40 кадров в секунду; высокая скорость съемки, отсутствие задержек.

3. Высокоточная моторизованная сканирующая платформа

Полностью автоматическое управление сканером по осям X, Y, Z. Повторяемость: ≤ 1 мкм. Ход: 80 мм * 60 мм. Максимальная скорость: ≥ 100 мм/с. Минимальный шаг: ≤ 200 нм.

4. Профессиональное программное обеспечение для анализа чистоты

Профессиональное программное обеспечение для анализа чистоты, отличающееся простотой и удобством в использовании; технология бесшовного соединения, многократное позиционирование каждой частицы, полный просмотр карты, статистика частиц, автоматическая оценка и экспорт профессиональных отчетов одним щелчком мыши и т. д., что делает его высокоэффективным, точным и надежным.