Система технического контроля чистоты SinAPC15A

Марка и модель:

-Бренд: XIENS

-Модель: Система технического контроля чистоты SinAPC15A

Назначение устройства:

- Используется для подсчета и анализа типа, размера и количества загрязняющих частиц на фильтрующей мембране, а также для их классификации по размеру.

Компонент оборудования:

-Японский микроскоп Olympus SZX7 с большой глубиной резкости

-Моторизованный высокоточный сканирующий столик

- Система визуализации высокого разрешения

- Программное обеспечение для обеспечения технической чистоты

- Высокопроизводительный компьютер

Производительность:

Японский стереомикроскоп Olympus SZX7 с большой глубиной резкости (для обнаружения частиц размером ≥15 мкм) предоставляет клиентам более комплексные решения с превосходными характеристиками изображения и удобным интерфейсом.

- Точность повторения операций на полностью автоматизированном сканирующем столике с управлением по осям X и Y: ≤1 мкм; ход: 80 мм * 60 мм; максимальная скорость: ≥100 мм/с; минимальный шаг: ≤200 нм.

- Цветная CMOS-камера высокого разрешения с интерфейсом USB 3.0 обладает точностью 0,5 мкм/пиксель, фактическим количеством пикселей 2,3 миллиона, высокой частотой кадров 40 кадров в секунду и быстрой скоростью захвата без задержек.

Профессиональное программное обеспечение для анализа чистоты отличается оптимизированными и упрощенными процессами; такие функции, как технология бесшовного сшивания, повторное позиционирование каждой частицы, просмотр изображения целиком, статистика частиц, автоматическая оценка и экспорт профессиональных отчетов одним щелчком мыши, обеспечивают высокую эффективность, точность и надежность.

-Операционная система: установлена ​​операционная система Windows 10/64-бит, а аппаратная конфигурация компьютера не ниже: восьмиядерный процессор Intel Core i7, жесткий диск 1 ТБ, 16 ГБ оперативной памяти, жесткий диск 1 ТБ, 21,5-дюймовый HD-дисплей.

1. Время сканирования и оценки одной фильтрующей мембраны должно составлять не более 3 минут (при использовании объектива 3× с общим увеличением не менее 250×).

2. Анализ позволяет точно различать металлические частицы, неметаллические частицы и волокна, обеспечивая тем самым стандартную базу данных для принятия решений.

3. Стереомикроскоп исследовательского класса с большой глубиной резкости, благодаря сверхвысокой глубине резкости и новому устройству зажима фильтрующей мембраны 4-го поколения, идеально решает проблему невозможности получения всех четко сфокусированных изображений во время сканирования, вызванную неровной поверхностью фильтрующей мембраны.